磁性材料鍍層測(cè)厚儀是國(guó)內(nèi)的分析儀器廠家，公司主營(yíng)產(chǎn)品X熒光檢測(cè)儀具有快速、精確、無(wú)損的特點(diǎn)。X熒光分析儀可以應(yīng)用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領(lǐng)域，如：電子電器（RoHS檢測(cè)）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)）、玩具安全（EN71-3）、建材（水泥、玻璃、陶瓷）、冶金（鋼鐵、有色金屬）、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地質(zhì)采礦、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)甚至人體微量元素的檢驗(yàn)等等。
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金屬鍍層測(cè)厚儀器為什么選擇天瑞thick800a 快速：1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。 方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口上的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
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THICK680電鍍膜厚檢測(cè)儀通過(guò)X射線照射，不同元素的發(fā)射出不同能量及強(qiáng)度的X光，通過(guò)接收器及軟件分析來(lái)精確分析金屬（鋁合金、銅合金）電鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）的厚度，一次分析五層，Z薄可分析0.005μm。
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